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A Bayesian Approach to Rocking-Curve Analysis in Dark-Field X-ray Microscopy

Benhadjira, A. ; Detlefs, C.; Favre-Nicolin, V.; Dresselhaus-Marais, L.; Kabukcuoglu, M. P. ORCID iD icon 1; Yildirim, C.
1 Institut für Photonenforschung und Synchrotronstrahlung (IPS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Verlagsausgabe §
DOI: 10.5445/IR/1000197632
Veröffentlicht am 05.10.2026
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1088/1757-899X/1350/1/012020
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Photonenforschung und Synchrotronstrahlung (IPS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsdatum 01.08.2026
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1757-8981, 1757-899X
KITopen-ID: 1000197632
HGF-Programm 56.12.11 (POF IV, LK 01) Materials - Quantum, Complex and Functional
Erschienen in IOP Conference Series: Materials Science and Engineering
Verlag Institute of Physics Publishing Ltd (IOP Publishing Ltd)
Band 1350
Seiten Article no: 012020
Nachgewiesen in OpenAlex
KIT – Die Universität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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