| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsmonat/-jahr | 05.2026 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 979-8-3315-4865-0 KITopen-ID: 1000197928 |
| Erschienen in | 2026 11th International Conference on Machine Learning Technologies (ICMLT) |
| Veranstaltung | 11th International Conference on Machine Learning Technologies (ICMLT 2026), Berlin, Deutschland, 20.05.2026 – 22.05.2026 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 437 - 444 |
| Externe Relationen | Siehe auch |
| Schlagwörter | industrial visual inspection, synthetic-to-real refinement, crack segmentation, early stopping |
| Nachgewiesen in | Scopus OpenAlex |