| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Automation und angewandte Informatik (IAI) Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsmonat/-jahr | 10.2026 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 2327-4662, 2372-2541 KITopen-ID: 1000198097 |
| Erschienen in | IEEE Internet of Things Journal |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Band | 13 |
| Heft | 20 |
| Seiten | 46533–46547 |
| Vorab online veröffentlicht am | 31.07.2026 |
| Schlagwörter | Flexible electronics (FEs), machine learning (ML), stress monitoring |
| Nachgewiesen in | Scopus OpenAlex |