| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Materialien – Angewandte Werkstoffphysik (IAM-AWP) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2026 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 2076-3417 KITopen-ID: 1000198490 |
| HGF-Programm | 31.13.06 (POF IV, LK 01) Plant Engineering |
| Erschienen in | Applied Sciences |
| Verlag | MDPI |
| Band | 16 |
| Heft | 20 |
| Seiten | 10130 |
| Vorab online veröffentlicht am | 13.10.2026 |
| Schlagwörter | NdGaO3; swift heavy ions; krypton irradiation; X-ray diffraction; Raman spectroscopy; differential attenuation; lattice strain; GaO6 octahedra |
| Nachgewiesen in | OpenAlex |