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XD-MAP: Cross-Modal Domain Adaptation via Semantic Parametric Maps for Scalable Training Data Generation

Bieder, Frank ORCID iD icon 1; Königshof, Hendrik; Hu, Haohao 2; Immel, Fabian; Shen, Yinzhe; Pauls, Jan-Hendrik ORCID iD icon 1; Stiller, Christoph
1 Institut für Mess- und Regelungstechnik (MRT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Mess- und Regelungstechnik mit Maschinenlaboratorium (MRT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mess- und Regelungstechnik (MRT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2026
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000198699
Erschienen in Proceedings of the IEEE/CVF Conference on Computer Vision and Pattern Recognition (CVPR) Workshops
Veranstaltung IEEE/CVF Computer Vision and Pattern Recognition Conference (CVPR 2026), Denver, CO, USA, 03.06.2026 – 07.06.2026
Seiten 3062-3071
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