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Breakdown behavior of solid-liquid systems - a comprehensive model

Julliard, Yannick; Schwab, Adolf J.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Elektroenergiesysteme und Hochspannungstechnik (IEH)
Publikationstyp Buchaufsatz
Publikationsjahr 2002
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 10272002
Erscheinungsvermerk In: Conference proceedings of the IEEE Conference on Electrical Insulation and Dielectric Phenomena, CEIDP, Cancun, Quintana Roo, Mexico 2002. S. 240-243.
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