In situ optical particle counter with improved coincidence error correction for number concentrations up to 107 particles cm-3

Sachweh, B.; Umhauer, Heinz; Ebert, F.; Buettner, H.; Friehmelt, R.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Mechanische Verfahrenstechnik und Mechanik (MVM)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr	1998
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 103798
Erscheinungsvermerk	J. of aerosol sci. 29 (1998) S. 1075-1086.