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Single-crystal x-ray diffractometry using synchrotron radiation

Eichhorn, Klaus; Hümmer, Kurt



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Kristallographie (Inst. f. Kristallograph.)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 1994
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen ID: 104194
Erscheinungsvermerk Acta phys. Polonica A 86 (1994) S. 497-512.
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