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Quantitative transmission electron microscopy investigation of the relaxation by misfit dislocations confined at the interface of GaN/Al2O3(001)

Kaiser, Stephan; Preis, Herbert; Gebhardt, Wolfgang; Ambacher, Oliver; Angerer, Helmut; Stutzmann, Martin; Rosenauer, Andreas; Gerthsen, Dagmar



Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 1998
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 105798
Erscheinungsvermerk Jap. j. of appl. phys. I 37 (1998) S. 84.
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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