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Vergleichende Untersuchungen der Grenzflächen und der Gas-Sensor- Eigenschaften von SnO2-Sputterschichten mittels ARXPS und Leitfähigkeitsmessungen

Michel, Hans-Jürgen

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Volltext §
DOI: 10.5445/IR/10795
Coverbild
Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Physik (PHYSIK)
Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp Hochschulschrift
Jahr 1995
Sprache Deutsch
Identifikator urn:nbn:de:swb:90-AAA107950
KITopen-ID: 10795
Reportnummer: FZKA-5648
HGF-Programm 41.02.01 (Vor POF, LK 01)
Serie Wissenschaftliche Berichte. FZKA ; 5648
Abschlussart Dissertation
Fakultät Fakultät für Physik (PHYSIK)
Institut Fakultät für Physik (PHYSIK)
Prüfungsdaten Diss. v. 30.6.1995
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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