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Relationship between electrical transport and hole concentration in YBa₂Cu₃O₇₋ₓ ultrathin films probed by electric fields

Auer, R.; Schneider, R.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nukleare Festkörperphysik (INFP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 1997
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110041231
HGF-Programm 34.01.02 (Vor POF, LK 01)
Erschienen in Journal of Applied Physics
Band 81
Seiten 3237-42
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