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Application of the scanning force microscope in structuring and in temperature-dependent analysis of Au nanostructures

Göbel, H.; Jacobs, L.; Blanckenhagen, P. von


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 1997
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110042457
HGF-Programm 52.01.31 (Vor POF, LK 01)
Erschienen in Journal of Vacuum Science and Technology
Band 15
Seiten 1359-63
Erscheinungsvermerk Papers from the 4th Internat.Conf.on NanometerScale Science and Technology, Beijing, China, September 8-12, 1996
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