Depth profiling of non-conductive oxidic multilayers with plasma-based SNMS in HF-mode
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Instrumentelle Analytik (IFIA) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 1998 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 110043323 |
| HGF-Programm | 41.05.01 (Vor POF, LK 01) |
| Erschienen in | Thin Solid Films |
| Band | 332 |
| Seiten | 215-19 |
| Erscheinungsvermerk | 25th Internat.Conf.on Metallurgical Coatings and Thin Films (ICMCTF 98), San Diego, Calif., April 27 - May 1, 1998 |