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Damage recovery in ion-implanted TiO₂ at low temperatures

Khubeis, I.; Fromknecht, R.; Massing, S.; Meyer, O.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nukleare Festkörperphysik (INFP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 1998
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110043782
HGF-Programm 34.01.02 (Vor POF, LK 01)
Erschienen in Nuclear Instruments and Methods in Physics Research
Band B 141
Seiten 332-337
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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