Discrete shape analysis of the energy distribution to discriminate non-atomic signal contributions in depth profiling with SNMS
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Instrumentelle Analytik (IFIA) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 1999 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 110044452 |
| HGF-Programm | 22.03.03 (Vor POF, LK 01) |
| Erschienen in | Surface and Interface Analysis |
| Band | 28 |
| Seiten | 56-60 |
| Erscheinungsvermerk | Asian and Pacific Conf. (APSIA), Singapore, SGP, November 30 - December 4, 1998 |