Quantitative X-ray microanalysis of beryllium using a multilayer diffracting device
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Materialforschung (IMF) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 1999 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 110044492 |
| HGF-Programm | 31.06.10 (Vor POF, LK 01) |
| Erschienen in | Journal of Analytical Atomic Spectrometry |
| Band | 14 |
| Seiten | 377-80 |
| Erscheinungsvermerk | 15th Internat.Congress on X-ray Optics and Microanalysis, Antwerpen, B, August 24-27, 1998 Book of Abstracts |