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Quantitative X-ray microanalysis of beryllium using a multilayer diffracting device

Kleykamp, H.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 1999
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110044492
HGF-Programm 31.06.10 (Vor POF, LK 01)
Erschienen in Journal of Analytical Atomic Spectrometry
Band 14
Seiten 377-80
Erscheinungsvermerk 15th Internat.Congress on X-ray Optics and Microanalysis, Antwerpen, B, August 24-27, 1998 Book of Abstracts
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