KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Interface investigations by infrared spectroscopy and X-ray reflectivity measurements of cubic boron nitride thin films

Ulrich, S.; Donner, W.; Dosch, H.; Ehrhardt, H.; Schwan, J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 1999
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110044570
HGF-Programm 42 (Vor POF, LK 01)
Erschienen in Surface and Coatings Technology
Band 116-119
Seiten 274-77
Erscheinungsvermerk Proc.of the 6th Internat.Conf.on Plasma Surface Engineering, Garmisch-Partenkirchen, September 14-18, 1998
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page