Characterization of artificially produced copper and bronze patina by XPS
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Instrumentelle Analytik (IFIA) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2000 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 110046089 |
| HGF-Programm | 21.15.01 (Vor POF, LK 01) |
| Erschienen in | Surface and Interface Analysis |
| Band | 30 |
| Seiten | 135-39 |
| Erscheinungsvermerk | 8th European Conf.on Applications of (ECASIA '99), Sevilla, E, October 4-8, 1999 |