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Fatigue behavior and development of microcracks in F82H after helium implantation at 200⁰C

Bertsch, J.; Meyer, S.; Möslang, A.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2000
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 110046706
HGF-Programm 31.02.02; LK 01
Erschienen in Journal of Nuclear Materials
Band 283-287
Seiten 832-37
Erscheinungsvermerk 9th Internat.Conf.on Fusion Reactor Materials (ICFRM-9), Colorado Springs, Colo., October 10-15, 1999, Part II
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