Fatigue behavior and development of microcracks in F82H after helium implantation at 200⁰C
Bertsch, J.; Meyer, S.; Möslang, A.
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Materialforschung (IMF) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2000 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 110046706 |
| HGF-Programm | 31.02.02 (Vor POF, LK 01) |
| Erschienen in | Journal of Nuclear Materials |
| Band | 283-287 |
| Seiten | 832-37 |
| Erscheinungsvermerk | 9th Internat.Conf.on Fusion Reactor Materials (ICFRM-9), Colorado Springs, Colo., October 10-15, 1999, Part II |