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Observation of harmonic current oscillations on partially oxidized Si(111) surfaces by scanning tunneling microscopy

Xie, F.; Blanckenhagen, P. von


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 1999
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110046867
HGF-Programm 43.01.02 (Vor POF, LK 01)
Erschienen in Applied Physics Letters
Band 75
Seiten 3144-46
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