Comparative study of harmonic oscillations of tunneling current on partially oxidized Si(100) and Si(111) surfaces by scanning tunneling microscopy and spectroscopy
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Nanotechnologie (INT) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2000 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0039-6028, 0167-2584, 1878-1047, 1879-2758 KITopen-ID: 110046874 |
| HGF-Programm | 42.02.01 (Vor POF, LK 01) |
| Erschienen in | Surface science |
| Verlag | Elsevier |
| Band | 454-456 |
| Seiten | 1031-1037 |
| Erscheinungsvermerk | European Conf.on (ECOSS-18), Wien, A, September 21-24, 1999,(2000) |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions Web of Science |