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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/S0039-6028(00)00222-3

Comparative study of harmonic oscillations of tunneling current on partially oxidized Si(100) and Si(111) surfaces by scanning tunneling microscopy and spectroscopy

Xie, F.; Sun, M.; Blanckenhagen, P.von



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2001
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 110046874
HGF-Programm 42.02.01; LK 01
Erschienen in Surface Science
Band 454-456
Seiten 1031-37
Erscheinungsvermerk European Conf.on (ECOSS-18), Wien, A, September 21-24, 1999,(2000)
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