Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Materialforschung (IMF) |
Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
Publikationsjahr | 2000 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | KITopen-ID: 110047515 |
HGF-Programm | 41.03 (Vor POF, LK 01) |
Erschienen in | Journal of Testing and Evaluation |
Band | 28 |
Seiten | 96-102 |