Interface structure studies by atomic resolution electron microscopy, order-disorder phenomena and atomic diffusion in gas-phase synthesized nanocrystalline solids

Schaefer, H. E.; Reimann, K.; Straub, W.; Phillipp, F.; Tanimoto, H.; Brossmann, U.; Würschum, R.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr	2000
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 110047862
HGF-Programm	43.01.03 (Vor POF, LK 01)
Erschienen in	Materials Science and Engineering A
Band	286
Seiten	24-33