YBCO-wafer qualification by surface resistance measurements combined with performance studies of microstrip resonators

Schwab, R.; Gaganidze, E.; Halbritter, J.; Heidinger, R.; Aidam, R.; Schneider, R.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Festkörperphysik (IFP) Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr	2001
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 110048851
HGF-Programm	45.01.04 (Vor POF, LK 01)
Erschienen in	Physica C
Band	351
Seiten	25-28
Erscheinungsvermerk	Proc.of Symp.Q of the 2000 E-MRS-IUMRS-ICEM Spring Conf.'Materials Issues for High Temperature Superconductor Applications, Strasbourg, F, May 30 - June 2, 2000
Externe Relationen	Abstract/Volltext