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XAS investigations of Al₂O₃-coated nanocomposite ZrO₂

Hagelstein, M.; Moser, H.O.; Vollath, D.; Ferrero, C.; Borowski, M.

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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1107/S090904950001668X
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Zitationen: 6
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Zitationen: 5
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2001
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110049457
HGF-Programm 42.03.10 (Vor POF, LK 01)
Erschienen in Journal of Synchrotron Radiation
Band 8
Seiten 522-24
Erscheinungsvermerk Proc.of the 11th Internat.Conf.on X-Ray Absorption Fine Structure XAFS XI, Ako, J, July 26-31, 2000, Part 2
Nachgewiesen in Dimensions
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