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Contamination of Si surfaces in ultrahigh vacuum and formation of SiC islands

Xie, F.; Blanckenhagen, P.von; Wu, J.; Liu, J.W.; Zhang, Q.Z.; Chen, Y.C.; Wang, E.G.



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/S0169-4332(01)00377-4
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Zitationen: 8
Dimensions
Zitationen: 7
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2001
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0169-4332, 1873-5584
KITopen-ID: 110050403
HGF-Programm 42.03.01 (Vor POF, LK 01)
Erschienen in Applied surface science
Verlag Elsevier
Band 181
Heft 1-2
Seiten 139-144
Nachgewiesen in Dimensions
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