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Intergranular melting of ultrafine grained Nd₂Fe₁₄B studied by means of radiotracer diffusion

Eggersmann, M.; Ye, F.; Herth, S.; Gutfleisch, O.; Würschum, R.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2002
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110050927
HGF-Programm 42.02.01 (Vor POF, LK 01)
Erschienen in Interface Science
Band 9
Seiten 337-41
Erscheinungsvermerk Internat.Conf.on the Intergranular and Interface Boundaries, Haifa, IL, July 22-27, 2001,(2001)
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