Microwave measurements of the absolute London penetration depth in double-sided YBa₂Cu₃O₇₋ₓ thin films on sapphire
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Festkörperphysik (IFP) Institut für Materialforschung (IMF) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2002 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 110051548 |
| HGF-Programm | 45.01.02 (Vor POF, LK 01) |
| Erschienen in | Review of Scientific Instruments |
| Band | 73 |
| Seiten | 335-44 |
| Nachgewiesen in | Scopus OpenAlex Dimensions Web of Science |