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Microwave measurements of the absolute London penetration depth in double-sided YBa₂Cu₃O₇₋ₓ thin films on sapphire

Zaitsev, A.G.; Schneider, R.; Linker, G.; Ratzel, F.; Smithey, R.; Schweiss, P.; Geerk, J.; Schwab, R.; Heidinger, R.



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1063/1.1435842
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Zitationen: 15
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Zitationen: 15
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Festkörperphysik (IFP)
Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2002
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110051548
HGF-Programm 45.01.02 (Vor POF, LK 01)
Erschienen in Review of Scientific Instruments
Band 73
Seiten 335-44
Nachgewiesen in Scopus
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