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Preparation of hard-to-make TEM samples using the FIB microscope. Präparation von kompliziert herstellbaren TEM-Proben mit dem FIB-Mikroskop

Volkert, C.A.; Heiland, B.; Kauffmann, F.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2003
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen ID: 110054967
HGF-Programm 41.03.02; LK 01
Erschienen in Praktische Metallographie
Band 40
Seiten 193-208
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