Preparation of hard-to-make TEM samples using the FIB microscope. Präparation von kompliziert herstellbaren TEM-Proben mit dem FIB-Mikroskop
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Materialforschung (IMF) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2003 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | KITopen-ID: 110054967 |
| HGF-Programm | 41.03.02 (Vor POF, LK 01) |
| Erschienen in | Praktische Metallographie |
| Band | 40 |
| Seiten | 193-208 |