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Application of electron backscatter diffraction in the SEM to textural problems of coated high-temperature superconductors

Obst, B.; Nast, R.; Schlachter, S.; de Boer, B.; Holzapfel, B.; Nemetschek, R.; Prusseit, W.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Physik (ITEP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2003
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 110055029
HGF-Programm 33.01.01; LK 01
Erschienen in Zeitschrift für Metallkunde
Band 94
Seiten 580-86
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