Characterization of B₄C and LaB₆ by ultrasonics and X-ray diffraction

Lemis-Petropoulos, P.; Kapaklis, V.; Peikrishvili, A. B.; Politis, C.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr	2003
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 110055235
HGF-Programm	42.02.01 (Vor POF, LK 01)
Erschienen in	International Journal of Modern Physics B
Band	17
Seiten	2781-88
Externe Relationen	Abstract/Volltext