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Characterization of B₄C and LaB₆ by ultrasonics and X-ray diffraction

Lemis-Petropoulos, P.; Kapaklis, V.; Peikrishvili, A.B.; Politis, C.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2003
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110055235
HGF-Programm 42.02.01 (Vor POF, LK 01)
Erschienen in International Journal of Modern Physics B
Band 17
Seiten 2781-88
Externe Relationen Abstract/Volltext
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