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Electrical insulation performance under thermal electrical combined stress for resistive fault current limiters

Hayakawa, N.; Noe, M.; Jüngst, K.P.; Okubo, H.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Physik (ITEP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2003
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1109/TASC.2003.812961
KITopen ID: 110055332
HGF-Programm 33.01.02; LK 01
Erschienen in IEEE Transactions on Applied Superconductivity
Band 13
Seiten 1996-1999
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