High-voltage contactless conductivity-detection for lab-on-chip devices using external electrodes on the holder

Tanyanyiwa, J.; Abad-Villar, E.; Fernandez-Abedul, M. T.; Costa-Garcia, A.; Hoffmann, W.; Guber, A. E.; Herrmann, D.; Gerlach, A.; Gottschlich, N.; Hauser, P. C.

doi:10.1039/b304469f

High-voltage contactless conductivity-detection for lab-on-chip devices using external electrodes on the holder

Tanyanyiwa, J.; Abad-Villar, E.; Fernandez-Abedul, M. T.; Costa-Garcia, A.; Hoffmann, W. ¹; Guber, A. E. ¹; Herrmann, D. ¹; Gerlach, A.; Gottschlich, N.; Hauser, P. C.
¹ Forschungszentrum Karlsruhe (FZKA)

Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Instrumentelle Analytik (IFIA) Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr	2003
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 110055447
HGF-Programm	41.06.02 (Vor POF, LK 01)
Erschienen in	Analyst
Band	128
Seiten	1019-1022
Nachgewiesen in	Web of Science Dimensions Scopus OpenAlex

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DOI: 10.1039/b304469f

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