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Effect of film thickness and grain size on fatigue-induced dislocation structures in Cu thin films

Zhang, G.P.; Schwaiger, R.; Volkert, C.A.; Kraft, O.



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1080/0950083031000151383
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Zitationen: 76
Dimensions
Zitationen: 62
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2003
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110055453
HGF-Programm 41.03.02 (Vor POF, LK 01)
Erschienen in Philosophical Magazine Letters
Band 83
Seiten 477-483
Nachgewiesen in Dimensions
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