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Cracks in functionally graded materials

Bahr, H.A.; Balke, H.; Fett, T.; Hofinger, I.; Kirchhoff, G.; Munz, D.; Neubrand, A.; Semenov, A.S.; Weiss, H.J.; Yang, Y.Y.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2003
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1016/S0921-5093(03)00582-3
KITopen ID: 110055688
HGF-Programm 41.03.03; LK 01
Erschienen in Materials Science and Engineering A
Band 362
Seiten 2-16
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