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Electron attachment to negative fullerene ions: a Fourier transform mass spectrometric study

Hartig, J.; Blom, M.N.; Hampe, O.; Kappes, M.M.



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/S1387-3806(03)00260-4
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Zitationen: 28
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Zitationen: 26
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2003
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110055926
HGF-Programm 42.01.01 (Vor POF, LK 01)
Erschienen in International Journal of Mass Spectrometry
Band 229
Seiten 93-98
Nachgewiesen in Web of Science
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