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Electron attachment to negative fullerene ions: a Fourier transform mass spectrometric study

Hartig, J. 1; Blom, M. N. 1; Hampe, O. 1; Kappes, M. M. 1,2
1 Forschungszentrum Karlsruhe (FZKA)
2 Universität Karlsruhe (TH)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/S1387-3806(03)00260-4
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Zitationen: 28
Web of Science
Zitationen: 27
Dimensions
Zitationen: 26
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2003
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110055926
HGF-Programm 42.01.01 (Vor POF, LK 01)
Erschienen in International Journal of Mass Spectrometry
Band 229
Seiten 93-98
Nachgewiesen in Scopus
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