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Electron attachment to negative fullerene ions: a Fourier transform mass spectrometric study

Hartig, J.; Blom, M.N.; Hampe, O.; Kappes, M.M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2003
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1016/S1387-3806(03)00260-4
KITopen ID: 110055926
HGF-Programm 42.01.01; LK 01
Erschienen in International Journal of Mass Spectrometry
Band 229
Seiten 93-98
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