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Characterisation and testing of micro specimen

Beck, T.; Schneider, J.; Schulze, V.



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1007/s00542-003-0350-7
Scopus
Zitationen: 12
Web of Science
Zitationen: 10
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2004
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110057479
HGF-Programm 41.02.01 (POF I, LK 01)
Erschienen in Microsystem Technologies
Band 10
Seiten 227-32
Nachgewiesen in Web of Science
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