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Correlation between magnetic properties of CoFe single and CoFe/SiO₂ multi-layer thin films and their microstructure, texture and internal stress state

Dieter, S.; Pyzalla, A.; Bauer, A.; Schell, N.; McCord, J.; Seemann, K.; Wanderka, N.; Reimers, W.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2004
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 110057608
HGF-Programm 41.02.02; LK 01
Erschienen in Zeitschrift für Metallkunde
Band 95
Seiten 164-75
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