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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1111/j.0022-2720.2004.01352.x
Web of Science
Zitationen: 16

Transmission electron microscopy of fluorapatite-gelatine composite particles prepared using focused ion beam milling

Volkert, C.A.; Busch, S.; Heiland, B.; Dehm, G.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2004
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110057844
HGF-Programm 41.03.02 (POF I, LK 01)
Erschienen in Journal of Microscopy
Band 214
Seiten 208-12
Nachgewiesen in Web of Science
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