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Nitrogen self-diffusion in silicon nitride thin films probed with isotope heterostructures

Schmidt, H.; Borchardt, G.; Rudolphi, M.; Baumann, H.; Bruns, M. 1
1 Forschungszentrum Karlsruhe (FZKA)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1063/1.1769594
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Zitationen: 19
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Zitationen: 17
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Instrumentelle Analytik (IFIA)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2004
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110058388
HGF-Programm 41.05.01 (POF I, LK 01) MOX-Sensoren
Erschienen in Applied Physics Letters
Band 85
Seiten 582-84
Nachgewiesen in Dimensions
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