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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1002/jcc.20081
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Zitationen: 12
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Zitationen: 8

Fluctuation analysis and accuracy of a large-scale in silico screen

Merlitz, H.; Herges, T.; Wenzel, W.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2004
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110058592
HGF-Programm 42.02.01 (POF I, LK 01)
Erschienen in Journal of Computational Chemistry
Band 25
Seiten 1568-75
Nachgewiesen in Scopus
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