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Fourier analysis of temporal and spatial oscillations of tunneling current in scanning tunneling microscopy

Xie, F. Q.; Molitor, S.; Koch, T.; Blanckenhagen, P. von


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2001
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110058777
HGF-Programm 42.02.02 (Vor POF, LK 01)
Erschienen in Chinese Physics
Band 10
Seiten S19-S26
Erscheinungsvermerk Suppl.July
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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