KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Fourier analysis of temporal and spatial oscillations of tunneling current in scanning tunneling microscopy

Xie, F.Q.; Molitor, S.; Koch, T.; Blanckenhagen, P.von



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2001
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 110058777
HGF-Programm 42.02.02; LK 01
Erschienen in Chinese Physics
Band 10
Seiten S19-S26
Erscheinungsvermerk Suppl.July
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page