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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1051/epjap:2004087

The use of neighbourhood intensity comparisons, morphological gradients and Fourier analysis for automated precipitate counting & Pendellösung fringe analysis in X-ray topography

Murphy, G.; Whelan, P.F.; McNally, P.J.; Tuomi, T.; Simon, R.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Synchrotronstrahlung (ISS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2004
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110059282
HGF-Programm 55.01.02 (POF I, LK 01)
Erschienen in European Physical Journal - Applied Physics
Band 27
Seiten 443-46
Erscheinungsvermerk 10. Int. Conf. on Defects: Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors (DRIP X), Blatz-sur-Mer, F, September 29-October 2, 2003
Nachgewiesen in Web of Science
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