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Microscopic investigation of strain localization and fatigue damage in thin Cu films

Zhang, G.P.; Volkert, C.A.; Schwaiger, R.; Kraft, O.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung - Werkstoff- und Biomechanik (IMF2) (IMF2)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2005
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 110060431
HGF-Programm 42.02.03; LK 01
Erschienen in Materials Science Forum
Seiten 3647-50
Erscheinungsvermerk Zhong, Z.Y. [Hrsg.] PRICM 5 : 5th Pacific Rim Internat.Conf.on Advanced Materials and Processing, Beijing, China, November 2-5, 2004 Uetikon-Zuerich : Trans Tech Publ., 2005. - Part 5 ( ; 475-479)
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