KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Microscopic investigation of strain localization and fatigue damage in thin Cu films

Zhang, G. P.; Volkert, C. A.; Schwaiger, R.; Kraft, O.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung - Werkstoff- und Biomechanik (IMF2) (IMF2)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2005
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110060431
HGF-Programm 42.02.03 (POF I, LK 01) Nanostrukturierte Festkörper
Erschienen in Materials Science Forum
Seiten 3647-50
Erscheinungsvermerk Zhong, Z.Y. [Hrsg.] PRICM 5 : 5th Pacific Rim Internat.Conf.on Advanced Materials and Processing, Beijing, China, November 2-5, 2004 Uetikon-Zuerich : Trans Tech Publ., 2005. - Part 5 ( ; 475-479)
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page