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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1142/S0217979205027858

Disorder and frustration in diluted magentic semiconductors at low carrier denisities

Bhatt, R.N.; Zhou, C.G.; Kennett, M.; Berciu, M.; Wan, X.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2005
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 110061221
HGF-Programm 42.02.02; LK 01
Erschienen in International Journal of Modern Physics B
Band 19
Seiten 5-7
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