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Local strains measured in Al lines during thermal cycling and electromigration using convergent-beam electron diffraction

Nucci, J.; Kramer, S.; Arzt, E.; Volkert, C.A.



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1557/JMR.2005.0231
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Dimensions
Zitationen: 9
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung - Werkstoff- und Biomechanik (IMF2) (IMF2)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2005
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110061587
HGF-Programm 42.03.01 (POF I, LK 01) Nanostrukt.u.nanofunktional.Oberflächen
Erschienen in Journal of Materials Research
Band 20
Seiten 1851-59
Nachgewiesen in Dimensions
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