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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1557/JMR.2005.0231

Local strains measured in Al lines during thermal cycling and electromigration using convergent-beam electron diffraction

Nucci, J.; Kramer, S.; Arzt, E.; Volkert, C.A.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung - Werkstoff- und Biomechanik (IMF2) (IMF2)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2005
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 110061587
HGF-Programm 42.03.01; LK 01
Erschienen in Journal of Materials Research
Band 20
Seiten 1851-59
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