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Tailored stoichiometries of silicon carbonitride thin films prepared by combined radio frequency magnetron sputtering and ion beam synthesis

Bruns, M. 1; Geckle, U. 1; Trouillet, V. 1; Rudolphi, M.; Baumann, H.
1 Forschungszentrum Karlsruhe (FZKA)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1116/1.1946713
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Zitationen: 9
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Zitationen: 8
Dimensions
Zitationen: 8
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Instrumentelle Analytik (IFIA)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2005
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110061589
HGF-Programm 41.05.01 (POF I, LK 01) MOX-Sensoren
Erschienen in Journal of Vacuum Science and Technology A
Band 23
Seiten 1114-19
Nachgewiesen in Dimensions
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