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Near-edge x-ray absorption fine-structure fingerprints of bulk-amorphous and nanostructured Pd-based alloys

Kapaklis, V.; Poulopoulos, P.; Wilhelm, F.; Jaouen, N.; Rogalev, A.; Politis, C.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2005
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 110062030
HGF-Programm 42.02.03; LK 01
Erschienen in Journal of Applied Physics
Band 98
Seiten 044319/1-6
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