Synchrotron X-ray topographic study of dislocations and stacking faults in InAs

Lankinen, A.; Tuomi, T.; Riikonen, J.; Knuuttila, L.; Lipsanen, H.; Sopanen, M.; Danileswky, A.; McNally, P. J.; O'Reilly, L.; Zhilyaev, Y.; Fedorov, L.; Sipilä, H.; Vaijärvi, S.; Simon, R.; Lumb, D.; Owens, A.

doi:10.1016/j.jcrysgro.2005.06.009

Synchrotron X-ray topographic study of dislocations and stacking faults in InAs

Lankinen, A.; Tuomi, T.; Riikonen, J.; Knuuttila, L.; Lipsanen, H.; Sopanen, M.; Danileswky, A.; McNally, P. J.; O'Reilly, L.; Zhilyaev, Y.; Fedorov, L.; Sipilä, H.; Vaijärvi, S.; Simon, R. ¹; Lumb, D.; Owens, A.
¹ Forschungszentrum Karlsruhe (FZKA)

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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.jcrysgro.2005.06.009

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Zugehörige Institution(en) am KIT	ANKA - die Synchrotronstrahlungsquelle am KIT (ANKA) Institut für Synchrotronstrahlung (ISS)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr	2005
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 110062461
HGF-Programm	55.51.10 (POF I, LK 01)
Erschienen in	Journal of Crystal Growth
Band	283
Seiten	320-27
Nachgewiesen in	Scopus Dimensions Web of Science

Repository KITopen

Synchrotron X-ray topographic study of dislocations and stacking faults in InAs