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Adsorption behaviour of creatine phosphokinase onto silicon wafers: comparison between ellipsometric and atomic force microscopy data

Pancera, S.M.; Gliemann, H.; Petri, D.F.S.; Schimmel, T.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2006
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 110064811
HGF-Programm 43.03.03; LK 01
Erschienen in Microscopy and Microanalysis
Band 11
Seiten 56-60
Erscheinungsvermerk (2005) Suppl.03
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