Adsorption behaviour of creatine phosphokinase onto silicon wafers: comparison between ellipsometric and atomic force microscopy data
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Nanotechnologie (INT) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2006 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 110064811 |
| HGF-Programm | 43.03.03 (POF I, LK 01) Grenzflächenabhängige Eigenschaften |
| Erschienen in | Microscopy and Microanalysis |
| Band | 11 |
| Seiten | 56-60 |
| Erscheinungsvermerk | (2005) Suppl.03 |